菲希尔X射线测厚仪XDL220特点:      

◆ 具有通用应用特性的高级模式  

◆ 4 倍电子调节光圈（准直仪），6 倍电子调节初级滤光镜 

◆ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD) 的型号还适用于更复杂的多元素分析

◆ 由下至上的测量方向可以简便地实现样品定位  

典型应用领域:  

◆ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能层进行分析  

◆ 示踪原子法分析为消费者提供保护，例如，玩具中的铅含量 

◆ 在珠宝行业和手选工段中最高精度要求的金属合金鉴定 

◆ 在高校和工业领域中的研究