FISCHERSCOPE X-RAY XDL230采用了基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄杜策，例如：装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

分析电镀溶液

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。

XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。

XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。