FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从

大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪典型的应用领域有：

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层，例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

分析电镀溶液