ThermoScientific™Nexsa™X射线光电子能谱仪(XPS)系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时，保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身，用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析，从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。  

射线光电子能谱仪描述：

材料分析和开发  

Nexsa能谱仪具有分析灵活性，可最大限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以可选多技术联合的形式提供灵活性，从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。  

标准化功能催生强大性能：  

·绝缘体分析  

·高性能XPS性能  

·深度剖析  

·多技术联合  

·双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展  

·用于ARXPS测量的倾斜模块  

·用于仪器控制、数据处理和报告生产的Avantage软件  

·小束斑分析  

可选的升级：可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行  

·ISS：离子散射谱，分析材料最表面1-2原子层元素信息，通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。  

·UPS：紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息  

·拉曼：拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息  

·REELS：反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息  

SnapMap  

借助SnapMap的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成*聚焦的XPS图像，以进一步设置您的实验。  

1.X射线照射样品上的一个小区域。  

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪  

3.随着样品台的移动，不断收集元素图谱  

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置，这些位置的图谱成像用来生成SnapMap  

应用领域  

·电池  

·生物医药  

·催化剂  

·陶瓷  

·玻璃涂层  

·石墨烯  

·金属和氧化物  

·纳米材料  

·OLED  

·聚合物  

·半导体  

·太阳能电池  

·薄膜