SURTRONIC DUO粗糙度仪泰勒代理

1.1 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO测量原理

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，无锡骏展仪器供应该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，无锡骏展仪器供应从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上读出，也可在打印机上输出，还可以与PC机进行通讯。

1.2 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO标准配置

标准配置清单名称数量

订货号主机1 台K510/3045-01

标准传感器1 支112／1502

标准样板1 块112／1257

传感器电缆1 根112／1534

螺丝刀1 把QA0001 9V

电池1 节QB0016

中英文说明书各1本