SURTRONIC S116泰勒粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116无锡骏展仪器供应测试参数：

三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器：2CR、Gaussian

评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S116无锡骏展仪器供应可选附件

测试平台：

00级大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可调Y轴V型铁

可调范围：±5mm

V型铁长度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25泰勒霍普森粗糙度仪无锡骏展仪器有如下改进：

1、电池由碱性9V改为锂电充电电池；

2、显示屏为触摸屏；

3、可以显示测试图形；

4、SURTRONIC 25只能测试10个参数，S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数（见技术参数）；

5、原来SURTRONIC 25使用电位器校准测试结果，现在改为自动软件校准。方便使用；

6、显示屏显示的结果（数据和图形）可以旋转，可以方便的从四个方向观察测试结果；

7、仪器底部为V形，测试轴类部件方便可靠；

8、测试数据存储增加了存储图形功能；

9、可以使用U盘直接存储，一个4G容量U盘可存储3.9万个图形，数据可以存储70批次，每批次为10万个测试数据。