梅特勒微量分析天平

XPR205D5/AC梅特勒微量分析天平

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-05-05 19:57:36
3836
属性:
测量精度:0.05 mg;产地类别:进口;价格区间:面议;校准方式:自动;仪器精度:十万分之一克;仪器量程:100-200g;仪器种类:超微量天平;应用领域:生物产业,制药,综合;重复性:0.2 mg;最大量程:220 g量程g;
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产品属性
测量精度
0.05 mg
产地类别
进口
价格区间
面议
校准方式
自动
仪器精度
十万分之一克
仪器量程
100-200g
仪器种类
超微量天平
应用领域
生物产业,制药,综合
重复性
0.2 mg
最大量程
220 g量程g
关闭
北京博奥聚合科技有限公司

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产品简介

XPR205D5/AC梅特勒微量分析天平对于极其微量的称量提供独良好的精确度.220 g量程、0.05 mg可读性、7''电容彩色触摸屏、用户管理、静电检测、自动内部校正且兼容LabX。

详细介绍

    梅特勒微量分析天平XPR205D5/AC具有很好的称量准确度和2微克可读性,是高难度称量应用(例如:称量微小样品)的正确选择。节省时间、成本与材料。

    由于配有StatusLight状态指示灯、LevelControl与Z小称量值警告功能等一系列的质量保证功能,因此可确保您快速获得关于天平状态的信息。这有助于快速采取纠正措施和确保称量流程合规。

    优化分析工作流程的效率

    由于提供多种连接选件(USB、Ethernet),因此可通过数字方式将称量结果传送至现有的信息系统。可通过方法库定制称量应用和快速访问工作流。

    梅特勒微量分析天平XPR205D5/AC产品特点:

    1、内置静电检测传感器

    为确保较高过程安全性,创新型StaticDetect静电检测可检测样品和/或其容器上的静电电荷。天平可测量称量误差以及在超出用户设定限值时发出警告。

    2、一体式与独立式防静电套件

    可将新的去静电装置模块轻松安装在称量室内。与StaticDetect同步操作去静电装置可自动去除正在称量物体上的静电电荷。此外还提供独立式去静电装置。

    3、易巧称量件容器支架

    易巧称量件不仅可轻松地在特殊形状容器内直接加样,金属结构还可起到法拉第笼的作用,可防止天平上产生样品或容器上出现的任何静电电荷。安全可靠地在玻璃或塑料容器内加样。
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