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功率器件分析仪B1506A
是德科技功率器件分析仪B1506A提供完整的电路设计解决方案，实现对车规级大功率半导体的高效安全的测试验证。 参考价面议 -
HED-G5000全自动芯片ESD测试设备
Hanwa ESD HED-G5000 全自动芯片ESD测试设备
近年来，自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的超前先进技术，解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性，保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准，而是基于国际AEC-Q100系列标准而进行汽车芯片可靠性测试，其中一环节就是要对汽车芯片进行CDM和HBM的静电相关测试。 参考价￥8000000 -
APD-QE光感测器量子效率测量仪
SPAD光学传感器测试设备,光感测器量子效率测量仪， 为了能更好的应用在移动设备上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。 但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高。 在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准检测的挑战。 我们采用与从不同的光束空间均匀化技术，利用ASTM标准的测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光感测器全光谱量子效率测试解决方案。 参考价￥3000000 -
GP200-8英寸手动探针台
GP200包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。 参考价面议 -
GP200-SE8英寸高低温探针台
GP200SE 8英寸高低温探针台包含DC~THZ测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。GP200SE拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。 参考价面议 -
GP200SiPH硅光探针台
硅光探针台,GP200-SIP系列8英寸探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置，在短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。
GP200拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。 参考价面议 -
GP2000/GP2000-SEGP半自动探针台
GP半自动探针台，GP2000-SE 高低温探针台。机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。可应用于I-V/C-V/P-IV测试、1/f噪声测试、射频/毫米波测试、功率测试、Load-Pull测试等。 参考价面议 -
GP300探针台
大功率探针台,GP300探针台让您的芯片测试更加简单，机台可轻松实现DC ~ THZ测量，提供芯片级I-V / C-V低噪声测试系统方案。 参考价面议 -
半导体器件参数分析仪
Keysight B1500A半导体测试设备, 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 模块化体系结构可以根据需要灵活升级。半导体器件参数分析仪 参考价面议 -
毫米波测试网分仪
N5290A和N5291A 是毫米波矢量网络分析仪（VNA）解决方案的主要配置之一。 这两个系统均对硬件和选件进行了全面配置，以支持宽带S参数测量。附加测量应用软件可以添加到基本配置中。毫米波测试网分仪 参考价面议 -
高清晰度示波器
高清晰度示波器特点
8 GHz带宽
4个模拟和16个数字通道
借助我们先进的系统架构，实现高达16位的垂直分辨率
以最大20 GSa / s的采样率和100 Mpts /通道的标准内存捕获更长的信号轨迹 参考价面议 -
波形发生器
是德高性能任意波形发生器使用低噪声时钟，可以提供性能和高质量的信号生成，以实现信号保真度。无论您需要台式设备或者直接在系统中应用的 AXIe、LXI 或 PXI 模块化设备，是德高性能任意波形发生都可以提供干净但复杂的真实信号。先进的排序功能可以优化存储器，以仿真持续时间较长的事件。是德任意波形发生以为您提供信号生成功能，满足众多应用需求。 参考价面议