美国 PIECAL 多功能校验仪 PIE334 美国 PIECAL 多功能校验仪 PIE334

想要更换过时的 Altek 校准器* 或 Transmation 校准器*？

PIE 校准器由同一团队的成员设计和制造，该团队创建了现在由 Fluke* 以 Altek* 标签制造的校准器。自 1980 年代以来，我们一直在设计校准器，自 2001 年以来一直在为 PIE 设计校准器。改进包括简单的“双击菜单”、带倾斜支架和可选磁铁带的橡胶靴、带有更大数字的背光显示器、坚固的开关和用于快速更换电池的电池仓。

PIE 升级了 Altek 多功能过程校准器 820 和 Altek 830 过程校准器、Altek RTD 校准器 311A 和 211、Altek 热电偶校准器 422 和 322-1、Altek 过程电压分析仪 235 和 Altek 4-20 毫安校准器 334 的替代品， 334A 和 434。PIE 535 型是用于 10-50 毫安回路的 Transmation 1040 和 Transmation 1080 的**替代品。

在世界任何地方需要时提供支持

每个 PIE 过程校准器都是在美国使用来自世界各地的组件设计、组装和校准的。所有 PIE 校准器均在纽约州韦伯斯特使用可溯源至 NIST 的设备进行校准。与其他仅包含校准实践声明的校准器不同，PIE 校准器标配校准证书和三年保修！

我们建议每年对我们的产品进行重新校准。请联系 PIE 或您当地的经销商进行工厂重新校准。校准也可以由贵公司的校准实验室或任何合格的校准供应商执行。校准程序发布在我们的网站上。

来自 PIE 的**环路诊断技术

过程回路中的电流泄漏，有时称为接地故障情况，可能是最难诊断和最令人沮丧的问题之一。通常由不正确的接地、腐蚀或潮湿引起，电流泄漏将表现为环路变送器校准中的零偏移。使用 PIE 的回路诊断校准器可让您立即读取此电流泄漏。这将为您节省数小时不必要的校准和故障排除。查看我们的视频，了解循环诊断的实际操作演示。