三丰Mitutoyo影像仪HYPER QV WLI-介绍

HYPER QV WLI配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统。

可根据WLI光学系统获取的3D数据进行表面形状分析/三维粗糙度分析。还可根据3D数据进行高度的尺寸测量和截面形状测量。

三丰Mitutoyo影像仪HYPER QV WLI-产品阵容

快！更快！！

世界正以难以估判的发展速度刷新着我们的认知。

而制造业在迅雷之势的发展进程中，日益精进的测量设备更是不可缺。

三丰公司推出了

非接触式测量的高&端升级版——

Quick Vision PRO系列

凭借惊人的高通量测量出类&拔萃。

不断进化的CNC影像测量机

与新开发的"StrobeSnap"影像测量功能配合，同时实现高通量和高精度测量。

与传统方法相比，大多数测量工件的测量时间可缩短约35~45% *。

Quick Vision Pro可通过选配升级追加STREAM功能，采用与主体驱动与频闪照明同步实现无停顿测量。

在STREAM模式下，600多个要素测量仅需36 秒*。

对此作出贡献的跟踪自动对焦（TAF）功能，可利用激光跟踪工件的高度并沿Z轴自动调整，再有StrobeSnap功能+Stream模式的加持，测量效率可进一步提升。

拥有全新影像自动对焦功能，支持在各个条件下进行高精度、高速度的高度测量。

无论镜面 or 粗糙面，对焦的速度也能提高约30%。

*：以上数值均为使用本公司演示工件的前提下，与旧规格相比较的结果。

Quick Vision Pro系列提供了丰富的产品线，具有广泛的测量范围和精度，胜任医疗、汽车、电子及半导体行业等多个行业的质量控制。

此外、以影像测量系统为主，使用非接触式传感器、触发式测头和白光干涉仪 (WLI) 来进一步扩展测量应用。主体提供不同级别的精度：1.5μm、0.8μm 和 0.25μm。

限于篇幅，

Quick Vision PRO就为您简单介绍到这里，更多硬核提升之处，

一起来感受PRO级的影像测量带来的全新体验！