XRF—便携式矿石分析光谱仪
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K-600XRF—便携式矿石分析光谱仪

参考价: 订货量:
110000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-03-30 10:00:46
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属性:
分析含量范围:ppm;价格区间:面议;行业专用类型:有色金属;仪器种类:手持式/便携式;应用领域:环保,化工,地矿,能源;元素分析范围:Mg~U;重复性:0.1%;是否国产:是;
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产品属性
分析含量范围
ppm
价格区间
面议
行业专用类型
有色金属
仪器种类
手持式/便携式
应用领域
环保,化工,地矿,能源
元素分析范围
Mg~U
重复性
0.1%
是否国产
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科迈斯(深圳)科学仪器有限公司

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产品简介

科迈斯XRF—便携式矿石分析光谱仪可对各种矿石进行多元素分析,广泛应用于各类矿石的检测和分析,还应用于矿渣精炼分析及考古研究。包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、锰矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

详细介绍

XRF—便携式矿石分析光谱仪产品说明:

K-600便携式矿石分析仪非常坚固耐用,可以在极为恶劣的环境中完成分析要求很高的应用。 每台设备都应用了科迈斯新开发的KMX技术,这种技术是XRF信号处理方面的一项革新,可提供精确无误、重复性很高的结果,从而使用户获得更高的生产力,并快速得到投资回报。k-600可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统,无辐射性同位素,现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究,对样品要求低,但是测试结果准确,能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。科迈斯手持式 k-600分析仪可对各种矿石进行多元素分析,广泛应用于各类矿石的检测和分析,还应用于矿渣精炼分析及考古研究。包括金矿、银矿、铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、锰矿、钒矿、碘矿、硫矿、钾矿、磷矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

 

XRF—便携式矿石分析光谱仪-产品参数

K-600手持式矿石分析仪
秉承科迈斯多年的X荧光光谱仪(手持式光谱仪)研发经验,KMX全新一代手持XRF矿石分析仪——K-600再次带来了一场分析领域的革命。K-600引入数字多道技术,使检出限更低,稳定性更高,适用面更广,性能媲美台式机;小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用,使探矿工作更为简单、轻松。K-600手持式矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统,无辐射性同位素,现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究,对样品要求低,但是测试结果准确,能准确分析高浓度样品,避免了验证性的实验室测试。

XRF资料建模技术:

1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑),从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色,并具有很高的升级潜力。

2、使用了*的和多用途的x射线资料模式—-采用康普顿常态化校正方法,可以利用“内部标准”来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。

3、基本参数分析:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。

4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。

5、配备了光谱高点识别软体,可在显示幕查看光谱

6、对比光谱,参考内置标准完成比较分析。

 

地矿行业应用优势
检测元素:标准配置可检测30多种元素,同时可按客户需求增加检测元素
专业性:矿石专用版分析软件,采用智能一键测试
*个性化定制工作模式
多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,根据客户需求定制工作模式。
*充分挖掘矿山价值

高清摄像头,可对被检测的矿脉或矿点部位进行更直观的观察,并对开采过程进行精确管理和控制,随时检测矿石品位。
*对选矿过程中原矿、精矿和尾矿等进行精确快速分析,为矿石品位的测定、矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据。
*环境监控
对开采矿山周围土壤中的重金属进行监测和检测,评估矿山环境的修复情况,最 大限度的监测好矿山周边的环境。

 

主要用途:

手持式矿石分析仪,用于矿业、地质、土壤环境、底泥、沉积物中的有色金属元素的快速分析测定。

1.主要配置要求:

1.1 矿石分析仪主机1套;

1.2 标准样品1个;

1.3 原装可充电锂电池2块;

1.4 充电座及电源线;

1.5 U盘(32G)1个;

1.6 加强型聚丙烯膜5片;

1.7 标准手提防潮防震箱一只。

 

技术参数及要求

1、检测元素:可用于矿石、土壤环境中金属元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(红色为SDD探测器配置)

2、探测器:美国Moxtek Si-pin(6 mm2)、美国Amptek Si-pin(25 mm2)、德国KETEK SDD探测器 

3、激发源:大功率微型直板X射线管,W靶材,4W大功率X射线管,管电压50KV,管电流最 大可达100μA;

4、采用KMX技术,更高X射线计数率,超低电子噪声设计。每次测试前,不需要外部标样,自动能量校准核查;

5、滤光片:配置8个滤光片,可根据测试元素自动切换;

6、测试方法:基本参数法,支持经验系数法修正

7、点触或扣动扳 机控制测试开始,测试过程无需长扣扳 机。根据客户需求,也可以一直按着扳 机测试样品。

8、操作系统:Window CE 6.0操作系统,安全、放心

9、自诊断功能:仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断,并会生成日志,便于快速排查出故障

10、标配模式:矿石模式;选配模式:合金分析模式、土壤分析模式

QQ截图20220408112825.png

 

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