材料耐电压击穿测试介电常数测试仪

LJD系列材料耐电压击穿测试介电常数测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-06 15:14:45
1614
属性:
产地类别:国产;价格区间:2万-5万;应用领域:地矿,能源,航天,汽车,电气;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
2万-5万
应用领域
地矿,能源,航天,汽车,电气
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北京航天易达仪器设备有限公司

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产品简介

材料耐电压击穿测试介电常数测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

详细介绍

LJD系列材料耐电压击穿测试介电常数测试仪标准:
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;

LJD系列介电常数介质损耗测试仪

一、符合标准:

ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;

GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;

GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法;

二、 材料耐电压击穿测试介电常数测试仪主机及夹具参数:


项目/型号

LJD-B

LJD-A

LJD-C

信号源

DDS数字合成信号

频率范围

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

16000:1

采样精度

11BIT

12BIT

信号源频率精度

3×10-5 ±1个字,6位有效数

Q值测量范围

1~1000自动/手动量程

Q值量程分档

30、100、300、1000、自动换档或手动换档

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

电感测量范围

1nH~8.4H,;分辨率0.1

1nH~140mH;分辨率0.1

电感测量误差

<3%

电容直接测量范围

1pF~2.5uF

1pF~25uF

调谐电容误差分辨率

±1pF或<1%

主电容调节范围

30~540pF

17~240pF

谐振点搜索

自动扫描

自身残余电感扣除功能

大电容值直接显示功能

介质损耗直读功能

介质损耗系数精度

万分之一

介质损耗测试范围

0.0001-1

介电常数直读功能

介电常数精度

千分之一

介电常数测试范围

0-1000

LCD显示参数

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

准确度

150pF以下±1pF;150pF以上±1%

Q合格预置范围

5~1000声光提示

环境温度

0℃~+40℃

消耗功率

约25W

电源

220V±22V,50Hz±2.5Hz

极片尺寸

38mm/50mm(二选一)

极片间距可调范围

≥15mm

材料测试厚度

0.1-10mm

夹具插头间距

25mm±0.01mm

夹具损耗正切值

≤4×10-4 (1MHz)

测微杆分辨率

0.001mm

测试极片

材料测量直径Φ38mm/50mm,厚度可调 ≥ 15mm


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