Park NX 20为FA 和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案 低噪声Z 探测器可精确测量A F M 表面形貌 用真正的非接触扫描方式节省成本。

Park NX 20 凝 聚 着 具 创 新 的 A F M 技 术

1 . 1 0 0 μ m x 1 0 0 μ m 扫 描 范 围 的 X Y 平 板 扫 描 器

2.高 速 Z 轴 扫 描 器 ， 扫 描 范 围 达 1 5 μ m

3.低 噪 声 X Y Z 位 置 传 感 器

4.集 尘 编 码 器 的 X Y 自 动 样 品 载 台

5.. 自 动 多 点 样 品 扫 描

6.操 作 方 便 的 样 品 台

7.用 于 拓 展 扫 描 模 式 易 插 拔 扩 展 槽

8.同 轴 高 功 率 光 学 集 成 L E D 照 明 和 C C D 系 统

9.扫 描 头 滑 动 嵌 入 式 设 计

10.. 自 动 Z 轴 移 动 和 聚 焦 系 统

在半导体产业发展如火如荼的今天，上海磊微伴随着行业不断学习、积极提升自身水平， 为越来越多的客户提供了专业的产品和服务。今后，磊微将以不断培育的市场为依托，以良好优质产品为核心，以高效运作的团队为基础，迎来更快更好的发展。我们一直秉承团结创新、严谨奋进的企业精神，秉承诚信务实、互利多赢的经营理念，努力为客户、为社会提供高品质产品和服务