一、自动光学检查系统 产品介绍：

1. 全自动AOI系统可获取目标表面高分辨率图像，并根据用户标准执行光学检测。例如，激光二极管的端面检查，镀膜的质量监控，表面检查，半导体芯片的顶部/底部/侧壁检查，以及晶片分拣。

2. 对于所有的ficonTEC系统，模块化的方式使得为监测平台提供附加功能成为可能—自动托盘处理，不同的进料模式，测试功能（例如 LIV），芯片顶部/底部检查，以及实时标记等。

3.主要功能：芯片侧壁检查、晶片分拣、裂纹识别、Break-out 检测、裂纹扩展预测、粒子识别、灰尘和纤维识别、详细的组件/亚批次/批次跟踪、单独错误种类处理。                                                 

二、自动光学检查系统 企业简介：         

深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司已授实用新型权利 29 项，软件著作权 14 项，是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。