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KEITHLEY 2636BKEITHLEY吉时利 2636型 数字源表
KEITHLEY吉时利 2636型 数字源表是双通道高精度源表（SMU），提供更广泛的测量能力，包括从0.1 pA到10 A的电流范围，适用于测试很低或很高电流的应用。此款仪器支持TSP®技术，用户能够通过内置脚本并行运行多台仪器，从而加速复杂测试流程。其出色的测量速度和超过30,000次/秒的读数速率，使其成为需要快速I-V扫描和数据捕获的研究人员的理想工具。 参考价面议 -
KEITHLEY 2612KEITHLEY吉时利 2612型 数字源表
KEITHLEY吉时利 2612型 数字源表 是一款高精度、多功能的源测量单元，广泛应用于电子元器件测试和材料研究。它集成了电压源、电流源和高精度测量功能，支持双通道操作，适合复杂的测试需求。该设备具有快速响应、内置测试脚本处理器和丰富的通信接口，确保高效的数据采集和处理，满足科研和生产环境的精密测试要求。 参考价面议 -
KEITHLEY 2602KEITHLEY吉时利 2602型 数字源表
KEITHLEY吉时利 2602型 数字源表因其高精度、多功能和高集成度，广泛应用于科研和工业领域的各种电学测试需求。其双通道设计、高速数据采集、TSP技术和丰富的编程接口，使其成为复杂电气测试环境中的理想选择。无论是单个器件的精密测试，还是复杂多通道系统的同步测试，2602型 数字源表都能提供可靠的解决方案，满足各种测试需求。 参考价面议 -
KEITHLEY 2450KEITHLEY 吉时利 2450型 数字源表
KEITHLEY 吉时利 2450型 数字源表是吉时利新一代数字源表(SMU)仪器，其创新的图表化用户界面(GUI)和先进的电容触摸屏技术，实现了直观使用和学习曲线简便化，支持工程师和科学家掌握更迅速、工作更便捷、发明更简单。是适用于各行各业使用者的源测量单元(SMU)。这种多用途仪器特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。 参考价面议 -
LMT-H高分辨电动二维材料转移平台
LET-S系列高分辨电动二维材料转移平台是我司根据客户特殊实验场景或高精度转移应用，自主研发的低维材料异质结器件转移产品，适用于石墨烯、硫化钼、黑磷等单层材料精确定点转移，以及多层范德华异质结的制备，实现了低维材料转移的可视化操作。转移系统由高分辨金相显微系统、精确控温系统、真空吸附系统、高精度电动样品台及电动衬底载物台等组成，目标衬底载物台可面内大角度旋转，是研究异质结特性、空间反演对称性破缺、 参考价面议 -
LMT-H高分辨二维材料转移平台
LMT-H系列高分辨二维材料转移系统是我司根据客户应用，自主研发的低维材料异质结器件转移产品，适用于石墨烯、硫化钼、黑磷等单层材料精确定点转移，以及多层范德华异质结的制备，实现了低维材料转移的可视化操作。转移系统由高分辨金相显微系统、精确控温系统、真空吸附系统、高精度四轴样品台及五轴衬底载物台等组成，目标衬底载物台可面内大角度旋转，是研究异质结特性、空间反演对称性破缺、以及二维材料不同堆叠方式影响 参考价面议 -
TPLS05-UN系列万向型5μm探针座
探针座作为探针台的核心部件，主要用途是连接探针和线缆，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从调节精度上来区分可分为10um/5um/3um/1um/0.5um等，从操作方式来区分可分为手动和电动，此外根据应用场景的不同又可分为通用型探针座/万向型探针座/L型探针座等，广泛应用于半导体及光电行业的电学参数测试。此款为万向型5μm探针座，针对一些对夹具旋转角度有特殊要求的场景，如斜向上扎针等。 参考价￥3000 -
PTR系列测试探针
测试探针作为探针台的核心部件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针、钨钢镀金探针、镀金软针、钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。 参考价￥750 -
LMT-B精密型二维材料转移平台
LMT-B系列精密型二维材料转移平台是我司根据客户应用，自主研发的低维材料异质结器件转移产品，适用于石墨烯、硫化钼、黑磷等单层材料精确定点转移，以及多层范德华异质结的制备，实现了低维材料转移的可视化操作。转移系统由显微系统、三轴转移台、四轴样品台等组成，目标衬底载物台可面内大角度旋转，是研究异质结特性、空间反演对称性破缺、以及二维材料不同堆叠方式影响的有力工具。 参考价面议 -
ASFL-10-D532/1064nm双波长亚纳秒重频可调谐激光器
532/1064nm双波长亚纳秒重频可调谐激光器 参考价￥300000 -
NET10008数据采集卡
数据采集卡 参考价￥3000 -
Ramp-fire谐振探测电控模块
谐振探测电控模块 参考价￥3000