斯派克SPECTRO-XEPOS IQ-偏振能量色散X射线荧光光谱仪，XRF包裹支撑样品膜

 斯派克SPECTRO-XEPOS IQ-偏振能量色散X射线荧光光谱仪，XRF包裹支撑样品膜

美国Chemplex是X射线荧光光谱仪（XRF）备件耗材领域的生产厂家。Chemplex公司生产的XRF样品杯和样品膜广泛应用于适用于以下等各品牌的X射线X荧光XRF光谱仪样品膜

麦拉膜，预切圆片膜，薄膜样品支撑框等等。材质有Etnom• Prolene• Mylar• Polypropylene• Zythene• Ultra-polyeter• Kaption • Microporous"

XOS   Sindie®, Clora, Signal, HD Maxine, Phoebe, Peta，Sindie 3rd Generation

Horiba SLFA Units，6100/6800/60A，Mesa 7220

Bruker S2 Puma，S2 Puma w/ Xflash，S2 Ranger，S4，S8 w/ Flex Loader，S8 Tiger

Innov-X Hand Held Units

Oxford Lab-X，MDX，Replacement Cells 54-LX6922，Replacement Cells & Covers: 54-CK-100，Replacement Cells & Covers: 54-CK-100 and L242 Holder

Malvern Panalytical Epsilon 3XL, MiniPal，Axios，Epsilon 5，Venus 200

Rigaku Mini-Z，Primus, Rix, ZSX-100

Spectro XEPOS, Xepos Low S, Xepos IQ, X-Lab 2000, 200, 200T Titan, Phoenix，IQ，Phoenix II，Scout

Thermo Advant'x

Xenemetrix X-Calibur, X-Cite

XRF 样品杯和薄膜样品支撑窗是 XRF 光谱法容纳和分析样品的基本必需品。从表面上看，该过程似乎相对简单。将薄膜贴在新样品杯的一端，引入样品并将其插入 X 射线机中进行元素分析。

选择合适的薄膜样品支撑窗主要是基于满足主要的重要实验室要求：

• 使用方便

• 避免污染

• 样品的耐化学性

• 分析物线透射率和强度

所提供的信息包括所提供的薄膜的主要包装形式、各种类型的薄膜、评估适当薄膜以分析物线百分比透射率和样品化学侵蚀抵抗力的方法。实验室关注的其他问题可能包括样品重量保留强度、压差条件下的性能、积分时间、激发电势和相关的热量产生。

使用便利性和避免污染尝试制备具有样品支撑窗口的样品杯时分配和处理薄膜是令人沮丧的、不方便的并且是污染源。这是由于薄膜固有的静电荷产生静电粘附。薄膜往往会粘在任何周围的物体和人身上。这种现象可能会污染薄膜并影响 X 射线分析数据。

随着 SpectroMembrane ®样品支撑载体框架的出现，薄膜不会因处理或吸引空气中的颗粒而产生令人讨厌的静电吸附或潜在的污染风险。除样品杯外，薄膜绝不会与其他任何物体紧密接触。薄膜 处理是通过使用集成载体框架来执行的，该载体框架在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样品平面。

光谱线的透射率 薄膜的透射率特性是计量厚度、密度和组成化学元素的质量衰减系数的函数。上面的分析物线透射率图表和照片可能有助于为给定的分析样品选择正确的薄膜。简单地指样品中具有能量 KeV 或最长波长 Å 的元素的谱线。然后选择透射率百分比最高的曲线。最后使用图例来确定哪种材料和厚度。

耐化学性在选择为感兴趣的元素分析物系列提供高％透射率值的薄膜的同时，评估样品的耐化学腐蚀性是一个适当的考虑因素。液体样品通常比其他样品形式更容易发生薄膜降解和破裂。请参阅“薄膜物质的耐化学腐蚀性”表。

对薄膜物质的完整性具有同等影响的其他因素包括：

• 积分时间 - 延长分析时间

• 激发电位 - 强烈的 X 射线照射

• 热量产生 - 来自样品和 X 射线源

强烈建议在实际使用之前对薄膜物质进行审慎的测试和评估，以避免分析过程中的意外事故以及对 X 射线仪器的潜在损坏以及昂贵的后续清理。

“选择 XRF 薄文件样品支撑窗口主要基于以下要求。 

• 避免污染

• 耐化学性

• 分析物线

• 使用便利性”

Chemplex 可根据您的要求提供不同类型、不同尺寸和格式的 XRF 薄膜

• Etnom
• Prolene
• Mylar
• Polypropylene
• Zythene
• Ultra-polyeter
• Kaption 
• Microporous"

如需详细咨询请联系我们