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赛默飞色谱柱色谱峰拖尾的很大一部分原因是，填料硅胶中含有金属离子杂质，在反相色谱分析中金属离子的主要影响作用方式有一下三种：
螯环化合物与金属离子在硅胶表面的强螯合作用，使得分析中他们的分离度和灵敏度都大大下降，峰形严重拖尾；
金属离子可以提高硅醇基的活性，使他们更偏酸性，加重了碱性化合物的拖尾，甚至可能导致峰形无法分辨；
金属离子杂质的存在影响固定相与硅胶表面的键合强度，使固定相烷基在硅胶表面的分布不均匀，暴露的硅醇基和金属杂质离子更易于影响敏感的待测分析化合物。
所以，色谱填料硅胶中的杂质含量高低，是影响色谱峰拖尾的关键因素。
与普通填料金属杂质含量比较可以看出，其他普通填料的金属离子含量远高于液相色谱柱：
| 金属杂质 | Na+ | K+ | Mg2+ | Al3+ | Fe2+ | Ca2+ | Ti+ | Zn2+ |
| CylarCol II 5C18 | 5 | 1 | 3 | 7 | 6 | 4 | 1 | 1 |
| 其他填料 | 37-4220 | ND | 4-64 | 20-150 | 20-303 | 6-444 | ND | ND |
赛默飞色谱柱的三种严苛测试
技术参数
| 粒径 | 孔径 | 孔体积 | 比表面积 | 碳载量 | 机械强度 | pH范围 | 封端 |
| 5μm | 120A | 1.1ml/g | 350m2/g | 17% | 600kg/cm2 | 1.4-9.4 | 双封端 |
订购信息
| 产品规格 | 订 货 号 |
| 4.6*150mm 5μm | LCC1810-01546RS |
| 4.6*250mm 5μm | LCC1810-02546RS |
