日本半导体闩锁测试仪

7000X-E/X-L/X-EL日本半导体闩锁测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-11-09 16:26:33
208
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应用领域:能源,电子,汽车,电气,综合;
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能源,电子,汽车,电气,综合
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上海途哲电子设备有限公司

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产品简介

日本半导体闩锁测试仪
系列测试机台阵容有:
●7000X-E(专用于ESD试验)
●7000X-L(专用于闩锁试验)
●7000X-EL(用于ESD/闩锁试验)

详细介绍

ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。
【闩锁部-满足 JEITA, JEDEC, AEC标准、DUT稳定化功能、输入引脚Max HI/Min LO和时钟/图形发生器为标准配置、可搭载最多10台电源(内部6台和外部4台) 、高温闩锁试验(选件)、动态IC的闩锁试验(可选)。
【ESD/闩锁共用部-引脚数:128、256、512、1024,最多10个相同的被测物连续测试。

日本半导体闩锁测试仪ESD试验:

ESD放电波形满足MIL、JEDEC、ESDA、AEC、JEITA标准。本机通过安装在2轴机器人上的ESD脉冲发生EPG模块和继电器矩阵板的组合,使ESD施加引脚和返回引脚能自由设定。由于可以设置复数的ESD的返回引脚,所以可以进行全部引脚组合的ESD试验。可选配示波器、电流探头和衰减器,简单的进行ESD波形的自动测试。

日本半导体闩锁测试仪闩锁试验:

可进行电流脉冲(ip),电压脉冲(vp),电源脉冲(vt)和ESD脉冲作为触发源的闩锁试验。MODEL 7000X通过输入引脚的上拉/下拉功能和时钟/脉冲图形信号,可以容易的使被测物达到稳定。评价闩锁温度依赖性的高温闩锁试验也可作为选件追加。

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