NANOTRAC WAVE II Zeta电位及纳米粒度分析仪采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速。

无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

Zeta电位及纳米粒度分析仪技术参数

测量原理：动态光散射法

Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率

分子量测量：水力直径或德拜曲线

测量范围：0.3 nm - 10 µm

检测角度：180°

重复性：±1%

Zeta电位范围：-200mV~+200mV

Zeta粒径范围：10nm~20μm

电泳迁移范围：0 - 15 (µm/s) / (V/cm)

电导率范围：0 - 10 mS / cm

分子量范围：<300 da="" -="">20 x 106 Da

控温范围：+4°C ~ +90°C

温度精度：±0.1℃

Zeta测量重复性：±3%

Nanotrac Flex：180°动态光背散射

Nanotrac Wave II：动态光背散射

粒径与粒形分析方法