SIS-150-日本表面检查灯小王子硅晶片光源检测_日本表面检查灯-深圳市京都玉崎电子有限公司手机版

产品简介

光学系统结构和计算方法，能够获得高度线性的测量结果，而不受色彩的影响。
■散射光直接检测方式
　　15&amp;amp;amp;amp;amp;#176;前向散射光直接检测方式，减少了样品粒径测量值的影响。
日本表面检查灯小王子硅晶片光源检测

详细介绍

日本表面检查灯小王子硅晶片光源检测

近红外卤素光源

SIS-150 (-NIR/-AIR)
近红外线照射装置

这是在近红外线区域具有峰值的光纤光源装置。
通过使用专用光学系统和对近红外区域敏感的相机，
它非常适合非破坏性检查，例如硅晶片的内部检查和背面图案的观察。

专用选件
* 可安装波长选择带通滤波器
* 可安装机械快门
* 可安装256级数字调光板
　* 模拟数字调光板（控制电压（0-5V））
　* 并联调光板（并联8-位数字信号）
　*串行调光板（RS232C串行8位数字信号）

模型	SIS-150-近红外	SIS-150-AIR
额定输入电压	交流100~240V	交流100~240V
额定输入频率	50/60赫兹	50/60赫兹
照明方式	直流照明方式	直流照明方式
光强调节	输出电压可变电压可变范围：DC2V～15V 光强度可变范围：0.1%～100%	输出电压可变电压可变范围：DC2V～15V 光强度可变范围：0.1%～100%
保护功能	过流保护电路（重新打开电源即可恢复）过温保护电路（自动恢复）	过流保护电路（重新打开电源即可恢复）过温保护电路（自动恢复）
冷却方式	强制风扇冷却	强制风扇冷却
工作温度/湿度	0℃～40℃/20%～80%RH（无凝露）	0℃～40℃/20%～80%RH（无凝露）
功能	灯断线信号输出：集电极开路/发射极开路模拟信号电压调光：DC0 至 5V 输入远程灯开/关：通过施加 DC5V 关闭	灯断线信号输出：集电极开路/发射极开路模拟信号电压调光：DC0 至 5V 输入远程灯开/关：通过施加 DC5V 关闭
外形尺寸	W124×H165×D224mm（不含突出部分的尺寸）	W124×H165×D224mm（不含突出部分的尺寸）
重量	约2.7公斤	约2.7公斤
照射波长	400～1100nm	400～1700nm
峰值波长	800nm	1000nm
光导	标准规格	需要专用耐热光导

专用耐热光导	SLG-B6-****-UHR（直）	DLG-B6-****-UHR（2 个分支）
捆束直径（毫米）	φ6	φ6
最小弯曲R(mm)	R40	R40
L尺寸（毫米）	1000	1000
L尺寸（毫米）	2000年	2000年
L尺寸（毫米）	3000	3000

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常用功能直达