计测网 INTECS目视检查 UIH-1C超亮照明装置

计测网 INTECS目视检查 UIH-1C超亮照明装置

品牌介绍：

点火监视装置（TAM系列）、超高亮度照明装置（UIH-1、UIH-2、UIH-3）、半导体晶片截面形状测量装置（WEMS、VSSW）等测量装置制造现场。

垃圾坑点火监控装置、超高亮度照明装置

垃圾坑点火监测装置

这是为了防止焚烧厂的垃圾坑（bunkas）发生火灾而开发的红外线监控装置。通过与自动水炮联动，可以实现高精度的自动瞄准水炮。

超亮灯光设备

这是一种非破坏性测量半导体晶片的截面形状和尺寸的装置。您可以测量晶圆边缘的尺寸、角度和半径。

雾度检查用照明装置

本页包含雾度检查照明设备的说明以及产品和维修查询的联系信息。

晶片截面形状测定装置

这是一种非破坏性测量半导体晶片的截面形状和尺寸的装置。可以测量晶圆边缘尺寸、角度和半径。

*1 为了保护灯泡，即使在主电源开关关闭的情况下

　　　 ，仍可通过风扇保持冷却直至灯室内温度降至约 40℃ 或更低的功能。

UIH-1C 外形尺寸 (PDF)

UIH-1C 使用说明书 说明书 (PDF)

UIH 系列使用说明书 说明书 (PDF)

UIH 系列规格说明书 (PDF)