SYCATUS光噪声分析仪A0040A

SYCATUS光噪声分析仪A0040A

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2024-07-30 16:09:34
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天津瑞利光电科技有限公司

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产品简介

随着数字相干传输技术的发展,激光源的光谱纯度已成为重要的问题。另一方面,高功能激光源(如 ITLA)由于与电子器件或复杂的控制方案集成在一起,也面临着电磁干扰引起的光频波动问题。

详细介绍

SYCATUS光噪声分析仪A0040A

产品型号:A0040A

产品介绍

SYCATUS 提供用于光频率噪声测量的 A0040A 光噪声分析仪。

随着数字相干传输技术的发展,激光源的光谱纯度已成为重要的问题。另一方面,高功能激光源(如 ITLA)由于与电子器件或复杂的控制方案集成在一起,也面临着电磁干扰引起的光频波动问题。

激光线宽测量是评估激光源光谱纯度的传统方法。然而,激光线宽不足以分析光频噪声的成分。由于数字相干传输系统中的 DSP 用于频率偏移补偿的带宽有限,因此须使用频谱分析来代替激光线宽测量。

A0040A 光学噪声分析仪通过结合 SYCATUS 的方法和 Keysight X 系列信号分析仪,能够以功率谱密度的形式捕捉光学频率噪声特性。

性能特点

以功率谱密度捕捉光频噪声。

1/f 噪声、白噪声和洛伦兹线宽分析。

高灵敏度 < 1KHz 线宽测量。

包括传统的延迟自外差干涉仪功能。

技术参数

产地:日本

光波长范围:1520-1620 nm1260-1360 nm 1260-1620 nm

光频噪声分析带宽:min.5Hz

Max.12.5 MHz、20 MHz、80 MHz、127.5 MHz 或 255 MHz

(取决于信号分析仪的规格)

噪音下限:6 mHz-rms2/Hz(@1 MHz,标准模式)

0.6 mHz-rms2/Hz(1 MHz,高灵敏度模式)

输入光功率范围:-7 dBm 至 +3 dBm

测量时间:<20 秒(标准模式,50 个平均值)

<0.5 秒(高速扫描模式,50 个平均值)

线宽测量< 1KHz

捕捉形式功率谱密度

分析内容:1/f 噪声、白噪声和洛伦兹线宽

附加功能延迟自外差干涉仪


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