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光学式膜厚计 日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光
长期供货
以前的型号使用滤光片式波长选择方法,但新产品采用了我们经过验证的光谱仪,可以选择任何波长。
膜厚变化信号由电压输出变为与计算机兼容的数字输出,控制机构由手动操作变为利用计算机指令控制。此外,由于可以通过I/F直接连接到计算机来控制膜厚计,因此不需要像其他制造商那样使用控制器,使其成为极其紧凑的系统。
紧凑型设计,内置光谱仪
提高抗噪性,实现高度可靠的膜厚监测(静电放电试验耐压±5kV)
可通过PC命令自动控制
通过将控制器集成到接收器主体中,实现了高性价比。
模型 | OMD-1000 |
光谱仪类型 | 车尔尼·特纳型单单色 |
波长范围 | 保证范围:380-900nm 可操作范围:350-1100nm |
波长分解能 | 狭缝 0.5mm: 4.2nm [546nm] 狭缝 1.0mm: 8.3nm [546nm] |
波长精度 | ±1.0纳米 |
最小波长馈电 | 0.1纳米 |
外部控制 | RS232接口 |
外部输出端子 | DC0~2V(满量程) |
采样间隔 | 100ms以上 |
静电放电测试耐压 | ±5kV(实际8kV) |
光源 | 12V100W卤素灯 |
光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
输入电压 | 交流100V 50/60Hz |
允许输入电压 | 交流85~132V |
皮相电力 | 340VA以下 |
使用环境 | 温度 10~35℃ 湿度 20~80% |