全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置
全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置
全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置
全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置
全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置

T8300-MkⅡ全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置

参考价: 订货量:
9787 1

具体成交价以合同协议为准
2024-08-06 15:56:42
160
属性:
产地类别:进口;应用领域:能源,电子,交通,电气,综合;订货号:176.0755.4908.;
>
产品属性
产地类别
进口
应用领域
能源,电子,交通,电气,综合
订货号
176.0755.4908.
关闭
池田屋实业(深圳)有限公司

池田屋实业(深圳)有限公司

中级会员3
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置
测量ISO14443中规定的非接触式IC卡的能力。
通过自由改变来自读写器的信号,
我们明确了可以容纳射频强度、调制深度、频率、调制定时等的范围。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 传输信号的特性

详细介绍

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置

全新TESTRAM泰斯特瑞 T8300MkⅡ 非接触卡评估装置

所有非接触式 IC 卡都“符合 ISO14443”,让您 

测量ISO14443中规定的非接触式IC卡的能力。
通过自由改变来自读写器的信号,
我们明确了可以容纳射频强度、调制深度、频率、调制定时等的范围。它量化了 IC 的接收能力以及 IC 传输信号的特性。

*与 A 型、B 型和索尼 FeliCa(C 型)兼容。

(注)“FeliCa”是索尼公司的注册商标。

同时测量的数量为2至32个通道,一次测量所需的时间仅为0.15秒。

它实现了大规模生产现场所需的高吞吐量和性价比,

非常适合表面贴装片材产品和卷材产品(例如预层压嵌体和 RFID 天线)的 100% 检测。

此外,我们还支持质量稳定的IC卡和标签的发货。


我们还接受定制检测头的请求,以匹配要测量的线圈设计。

紧凑的设计允许集成到芯片安装机等生产设备中。

当并入生产线时,可以通过I/O输出1CH至32CH的PASS/FAIL判断。



规格
基本功能
轮询功能
波形监视功能
功能功能
负载调制
强电场应用
APD 编辑
波形测量触发设置功能
电气特性
工作频率范围的评估
基于磁场上升时间的启动可用性
评估 使用可变启动时间的
评估 工作磁场强度范围的评估 工作
调制度范围的评估
允许的字符间距的
评估 允许的 SOF 时序
的评估 允许的 EOF 时序的
评估 基于调制等级的可变到达时间
最小响应时间等
系统配置
T8300主机/PC/显示器
实时频谱分析仪或数字示波器
电源
AC100V15A


上一篇:日本共立WAK-Cu铜离子测试包 池田屋现货 下一篇:WAK-CR6+六价铬水质测试包0-2.0mg/L日本共立 仓库现货
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :