半导体器件快速温度变化湿热试验箱
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半导体器件快速温度变化湿热试验箱

HT-TEB-225PF半导体器件快速温度变化湿热试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-09-03 12:26:00
62
属性:
产地类别:国产;价格区间:5万-10万;应用领域:石油,能源,电子,电气;内容积:225 升;内箱尺寸:W×D×H = 500×600×750mm;外箱尺寸:W×D×H = 850×1500×2030mm;温度范围:-20℃~+150℃;温度波动度:±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃);温度偏差:±1.5℃(+100.1~+150℃);升温时间 (平均 /min):非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃);降温时间 (平均 /min):非线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃);使用环境:温度 +5℃~+35℃;湿度≤90% rh;内箱:不锈钢板 SUS304;电源:AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四线 + 保护地线;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
5万-10万
应用领域
石油,能源,电子,电气
内容积
225 升
内箱尺寸
W×D×H = 500×600×750mm
外箱尺寸
W×D×H = 850×1500×2030mm
温度范围
-20℃~+150℃
温度波动度
±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃)
温度偏差
±1.5℃(+100.1~+150℃)
升温时间 (平均 /min)
非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
降温时间 (平均 /min)
非线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
使用环境
温度 +5℃~+35℃;湿度≤90% rh
内箱
不锈钢板 SUS304
电源
AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四线 + 保护地线
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广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介

半导体器件快速温度变化湿热试验箱是一款专业设备。它能精确控制温度在较大范围内快速变化,并可调节湿度。主要用于对半导体器件进行严苛的环境测试。通过模拟不同的温度和湿度条件,检测半导体器件在快速温变及湿热环境中的性能稳定性和可靠性。该试验箱操作简便,数据精准,为半导体器件的研发、生产及质量检测提供有力保障,确保半导体器件在各种复杂环境下仍能正常工作,满足行业高标准要求

详细介绍

半导体器件快速温度变化湿热试验箱


一、用途


产品研发

帮助半导体器件研发人员了解产品在不同温度和湿度条件下的性能表现,以便优化设计和制造工艺。通过快速温度变化和湿热环境的模拟,可以发现潜在的问题和弱点,为产品改进提供依据。

评估新开发的半导体器件在不同环境下的可靠性和稳定性,加速产品的研发进程。

质量控制

在半导体器件的生产过程中,对原材料和成品进行严格的环境测试,确保产品符合质量标准。快速温度变化湿热试验箱可以检测出可能存在的质量缺陷,如封装不良、材料老化等问题,提高产品的良品率。

对不同批次的产品进行一致性测试,保证产品质量的稳定性和可靠性。

可靠性验证

模拟半导体器件在实际使用过程中可能遇到的各种环境条件,验证其在长期使用中的可靠性。通过反复的温度变化和湿热循环测试,可以预测产品的使用寿命,为客户提供可靠的产品保证。


半导体器件快速温度变化湿热试验箱


半导体器件快速温度变化湿热试验箱


二、设备在产品测试中的重要性


模拟真实环境

半导体器件在实际应用中往往会受到温度和湿度变化的影响,快速温度变化湿热试验箱能够真实地模拟这些环境条件,使测试结果更具实际意义。例如,在汽车电子、航空航天等领域,半导体器件需要在恶劣的环境下工作,该试验箱可以帮助企业确保产品的可靠性。

加速老化测试

通过快速的温度变化和高湿度环境,可以在较短的时间内模拟半导体器件在长期使用过程中的老化过程。这有助于提前发现产品的潜在问题,缩短产品的研发周期和质量检测时间。

精确控制测试条件

试验箱可以精确控制温度、湿度和变化速率等参数,确保测试结果的准确性和可重复性。这对于比较不同产品的性能以及评估产品的质量稳定性至关重要。

提高产品可靠性

通过对半导体器件进行严格的环境测试,可以筛选出具有良好性能和可靠性的产品,降低产品在使用过程中的故障率。提高产品的市场竞争力,增强客户对企业的信任度。

优化产品设计

根据测试结果,企业可以了解半导体器件在不同环境条件下的性能变化规律,从而优化产品的设计和制造工艺。提高产品的性能和可靠性,满足市场对高品质半导体器件的需求。




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