半导体器件线性快速温变箱
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HT-TEB-225PF半导体器件线性快速温变箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-09-03 15:07:28
98
属性:
产地类别:国产;价格区间:5万-10万;应用领域:石油,能源,电子,电气;内容积:225 升;内箱尺寸:W×D×H = 500×600×750mm;外箱尺寸:W×D×H = 850×1500×2030mm;温度范围:-20℃~+150℃;温度波动度:±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃);温度偏差:±1.5℃(+100.1~+150℃);升温时间 (平均 /min):线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃);降温时间 (平均 /min):线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃);使用环境:温度 +5℃~+35℃;湿度≤90% rh;内箱:不锈钢板 SUS304;电源:AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四线 + 保护地线;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
5万-10万
应用领域
石油,能源,电子,电气
内容积
225 升
内箱尺寸
W×D×H = 500×600×750mm
外箱尺寸
W×D×H = 850×1500×2030mm
温度范围
-20℃~+150℃
温度波动度
±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃)
温度偏差
±1.5℃(+100.1~+150℃)
升温时间 (平均 /min)
线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
降温时间 (平均 /min)
线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)
使用环境
温度 +5℃~+35℃;湿度≤90% rh
内箱
不锈钢板 SUS304
电源
AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四线 + 保护地线
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广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介

半导体器件线性快速温变箱。它能精准控制温度以线性方式快速变化,为半导体器件提供严苛的环境考验。可模拟多种实际工况下的温度变化,检测半导体器件在快速温变中的性能稳定性与可靠性。该试验箱操作简便,数据精准可靠,助力半导体器件研发与生产,确保产品在不同温度条件下仍能正常工作,满足半导体行业对高质量测试设备的需求,提升产品品质与市场竞争力。

详细介绍

半导体器件线性快速温变箱


 

 

 

 

 

 

一、用途


产品研发

用于评估新开发的半导体器件在不同温度变化条件下的性能表现。通过模拟快速线性温度变化,可以发现器件在热应力下的潜在问题,为设计优化提供依据。

帮助确定半导体器件的工作温度范围和极限,以便在设计阶段就考虑到各种温度条件对器件性能的影响。

质量控制

在生产过程中,对半导体器件进行快速温变测试,确保产品符合质量标准。可以检测出可能存在的制造缺陷,如焊接不良、封装密封性差等问题。

对不同批次的产品进行一致性测试,保证产品质量的稳定性。

可靠性验证

模拟半导体器件在实际使用环境中的温度变化情况,验证其在长期使用中的可靠性。通过反复的温度循环测试,可以预测器件的寿命和故障率。

为半导体器件的可靠性认证提供测试数据,满足行业标准和客户要求。

 

 

半导体器件线性快速温变箱

 

 

半导体器件线性快速温变箱


 

 

 

 

 

二、设备在产品测试中的重要性


模拟实际工况

半导体器件在实际应用中常常会经历快速的温度变化,线性快速温变试验箱能够准确地模拟这种环境,使测试结果更接近实际使用情况。

可以帮助企业提前发现产品在实际使用中可能出现的问题,降低产品的返修率和售后成本。

加速老化测试

通过快速的温度变化,可以在较短的时间内模拟半导体器件在长期使用过程中的老化过程。这有助于缩短产品的研发周期和质量检测时间。

可以快速筛选出可靠性较低的产品,提高生产效率和产品质量。

精确控制测试条件

试验箱可以精确控制温度变化的速率、幅度和持续时间等参数,确保测试结果的准确性和可重复性。

可以根据不同的测试需求进行定制化的测试方案,满足各种半导体器件的测试要求。

提高产品可靠性

通过对半导体器件进行严格的快速温变测试,可以筛选出具有较高可靠性的产品,提高产品的市场竞争力。

可以为客户提供可靠的产品保证,增强客户对企业的信任度。

优化产品设计

根据测试结果,企业可以了解半导体器件在不同温度条件下的性能变化规律,从而优化产品的设计和制造工艺。

可以提高产品的性能和可靠性,满足市场对高品质半导体器件的需求。

 

 


 

满足标准:

国家标准:

GB/T 10589-1989《低温试验箱技术条件》:规定了低温试验箱的技术要求、试验方法、检验规则等,线性快速温变箱在低温性能方面需符合该标准的相关要求,如低温范围、降温速率、温度均匀性等指标。

GB/T 10586-1989《湿热试验箱技术条件》:虽然主要针对湿热试验箱,但线性快速温变箱如果具备湿热功能,也需要满足其中关于湿热环境参数控制、湿度均匀性等方面的要求。

GB/T 10592-1989《高低温试验箱技术条件》:对高低温试验箱的整体性能作出规定,包括温度范围、温度波动度、温度偏差、升降温速率等,线性快速温变箱的相关性能指标应满足此标准。

国际电工委员会标准(IEC):

IEC 60068-2-1《Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: Cold》:是国际上通用的低温试验标准,规定了低温试验的方法和要求,线性快速温变箱进行低温试验时需遵循该标准。

IEC 60068-2-2《Environmental testing - Part 2-2: Tests - Test B: Dry heat》:涉及高温试验的标准,对于线性快速温变箱在高温环境下的试验条件、试验程序等作出规范。

IEC 60068-2-14《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》:专门针对温度变化试验,明确了温度变化的速率、范围以及试验的持续时间等要求,线性快速温变箱的温度快速变化功能需符合该标准。

J用标准:

GJB 150.4-1986《J用设备环境试验方法 低温试验》:是J用设备进行低温试验的依据,线性快速温变箱若用于J用半导体器件测试,需满足该标准中对低温环境的各项指标要求。

GJB 150.3-1986《J用设备环境试验方法 高温试验》:规定了J用设备高温试验的条件和方法,当对J用半导体器件进行高温测试时,线性快速温变箱应符合此标准。

GJB 150.9-1986《J用设备环境试验方法 湿热试验》:如果涉及到J用半导体器件在湿热环境下的测试,线性快速温变箱要满足该标准中关于湿热试验的参数和程序要求。

其他相关标准:

MIL-STD-810D《Department of Defense Test Method Standard for Environmental Engineering Considerations and Laboratory Tests》:美国国防部的环境工程考虑和实验室测试方法标准,其中包含了对温度变化、湿热等环境试验的详细要求,线性快速温变箱在一些特定应用场景下可能需要参考此标准。

GB/T 2423.4-1993(等同于 MIL-STD-810)《电工电子产品环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 Db:交变湿热(12h+12h 循环)》:规定了交变湿热试验的方法,线性快速温变箱进行此类试验时需按照该标准执行。

GB 2423.34-1986、MIL-STD-883C 方法 1004.2《温湿度组合循环试验》:对于温湿度组合循环试验的条件和程序作出规定,线性快速温变箱进行相关试验时要符合这些标准的要求 。


 

 

 

 

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