三箱式冷热冲击试验箱芯片行业使用设备
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TSD-150F-3P三箱式冷热冲击试验箱芯片行业使用设备

参考价: ￥50000~￥186000/台
具体成交价以合同协议为准
2024-09-03 13:51:30
53
属性：
产地类别:国产；价格区间:5万-10万；应用领域:能源,电子,交通,航天,电气；高温区:+60℃～200℃；低温区:-10℃～-60℃；温度波动度:±0.5℃；温度均匀度:±3℃；温度恢复时间:3～5 分钟 ；高温槽升温速度:平均约 5℃/min；低温槽降温速度:平均约 1.5℃/min；高低温暴露时间 :30min 以上；高低温转换时间:≤10秒；样品容积:36L；工作室尺寸:600×500×500mm（宽 × 高 × 深）；外形尺寸:约 1880×1850×2120mm；电源:380V/50Hz；重量:约 560kg；
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
5万-10万
应用领域
能源,电子,交通,航天,电气
高温区
+60℃～200℃
低温区
-10℃～-60℃
温度波动度
±0.5℃
温度均匀度
±3℃
温度恢复时间
3～5 分钟
高温槽升温速度
平均约 5℃/min
低温槽降温速度
平均约 1.5℃/min
高低温暴露时间
30min 以上
高低温转换时间
≤10秒
样品容积
36L
工作室尺寸
600×500×500mm（宽 × 高 × 深）
外形尺寸
约 1880×1850×2120mm
电源
380V/50Hz
重量
约 560kg
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广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介

三箱式冷热冲击试验箱在芯片行业发挥着重要作用。它拥有三个独立箱体，分别实现高温、低温和测试区的精准控制。对于芯片行业而言，该设备能模拟各种不同的温度环境变化，检测芯片在不同温度冲击下的性能和可靠性。精准的温度控制和快速的温度转换确保测试结果准确可靠。帮助芯片企业提前发现产品潜在问题，提升芯片质量，为芯片行业的发展提供有力的检测支持，是芯片企业不可少的重要设备。三箱式冷热冲击试验箱芯片行业使用设备

详细介绍


三箱式冷热冲击试验箱芯片行业使用设备



在当今科技飞速发展的时代，芯片作为电子设备的核心部件，其质量和可靠性至关重要。而三箱式冷热冲击试验箱，正是芯片行业中一款不可少的检测设备。它以其出色的性能和精准的测试能力，为芯片的研发、生产和质量控制提供了有力的保障。


一、主要功能及特点：


功能：能够快速实现高温、低温之间的切换，模拟芯片在实际使用中可能面临的恶劣的温度变化环境，对芯片的性能、可靠性进行严格测试。


特点：


  1. 三箱独立结构，确保温度转换高效、准确。

  2. 精准的温度控制，温度波动小，保证测试结果的可靠性。

  3. 操作简便，智能化控制系统，方便用户进行参数设置和监控。

  4. 具有良好的稳定性和耐用性，能够长时间连续工作。





二、TSD-150F-3P 参数：

  • 温度范围：高温区 +60℃～+150℃，低温区 -10℃～-65℃。

  • 温度波动度：高温区 ±0.5℃，低温区 ±1.0℃。

  • 温度均匀度：高温区 ±2.0℃，低温区 ±2.0℃。

  • 升温速率：从常温升温至 +150℃约 30 分钟。

  • 降温速率：从常温降温至 -65℃约 60 分钟。

  • 工作室尺寸：宽 × 高 × 深为 600mm×500mm×500mm。



三、具备测试条件：
该试验箱具备精准的温度控制能力，能够在高温与低温之间快速切换，模拟各种不同的温度变化情况。无论是三箱式还是二箱式，都拥有宽敞的测试空间，可满足不同尺寸产品的测试需求。同时，配备高性能的监测系统，实时记录测试过程中的温度、时间等参数，为测试结果的准确性提供保障。


四、满足以下标准：


一、国际标准


  1. IEC 60068-2-14：环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化。

  2. MIL-STD-810F：美国J用标准，环境工程考虑和实验室试验方法。


二、国家标准


  1. GB/T 2423.1-2008：电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温。

  2. GB/T 2423.2-2008：电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B：高温。

  3. GB/T 2423.22-2012：环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化。





三箱式冷热冲击试验箱芯片行业使用设备



三箱式冷热冲击试验箱在芯片行业中扮演着关键的角色。它的出现，为芯片企业提升产品质量、增强市场竞争力提供了有力的支持。选择三箱式冷热冲击试验箱，就是为芯片的出色品质保驾护航
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