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TEM-APT Holder 电镜连用三维原子探针样品杆
TEM-APT Holder 电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用， 有效地使原子 探针和透射电镜检测结合在一起， 使样品的观察和分析更加方便。 TEM-APT Holder 电镜连用三维 原子探针样品杆用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察， 可以 360°旋转样品， 透射电镜 配套的样品杆往往功能单一， 这款样品杆可以满足客户的多种的需要， 适合大专院校及科研院所 中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲， 本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用， 价格也远低于进口设备的价格。
| 产品型号 | TEM-APT Holder 电镜连用三维原子探针样品杆 |
| 主要特点 | 1 、TEM-APT 样品杆：三维原子探针（3DAP）和透射电镜（TEM）是先 进的原子尺度表征手段。 2、三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能 提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的 单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了 3DAP-TEM 样品 杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到 TEM 样品杆上。 |
| 产品结构 |
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产品作用 | （1）在 TEM 中直接观察 APT 试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加； （2）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为 3DAP 数据重构提供帮助 （3） TEM 观察过后的试样可以直接移到 APT 中继续实验。将 APT 结果与 TEM 图像相结合，有助于优化重构参数，并使 3DAP 结果更具有可信度。 （4）在原子水平上获得了样品的组成和结构。
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产品性能 | （1）接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱。 （2）允许 360°的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失。 （3）样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到 APT 机上进行进一步表征。 （4）兼容所有几何形状的极片间隙。 |
