测试原理

通过软件程序控制，让射线发生路产生适合的K射线去激发则试薄膜材料中的Sl或者其他元素，被X射线激发后变为不稳定态,高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能里被探则器接收,因每个元素都有自已特定

的能量特征线,通过探测器的识别，计算机软件的计算,即可准确识别该元素,并计算出含量。

仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达到125eV,能分辨AI(铝)元素和Si(硅)元素

技术特点

，测试采用X射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发设备集成多个usb接口，数据和通讯传输满足多种要求测试下限好，可准确测量0.01g/m2的涂硅量空气光路内部环境得到显著优化，大气环境-样可以直接测试采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确一键测试/操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确