CHY-01厚膜膜层测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。厚膜膜层测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。技术特征

l 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制;

l 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差;

l 测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；

l 彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；

l 配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；

l 支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能;

l 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；

l 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小（选配）；

应用范围

适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。扩展应用：（需特殊附件或改制）

适用标准

该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011、ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411

技术参数