能量色散X荧光光谱仪（镀层元素分析） 返回列表页

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。赛默飞 ARL QUANT'X 能量色散X荧光光谱仪（镀层元素分析）提供大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF(能量色散 X 射线荧光)系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。

赛默飞 ARL QUANT'X 能量色散X荧光光谱仪有如下分析技术优势:

1、快速分析氟(F)到铀(U)之间的元素;

2、元素分析浓度范围从<1ppm到100;

3、多元素同时测量时间10-60秒;

4、可选多种进样器;

5、使用CCD相机进行样品成像;

6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小;

7、高性能电制冷硅漂移探测器(SDD);

8、多功能XRF应用软件;

9、薄膜厚度测量与镀层分析;

10、UniQuant技术，无标样多元素同时分析技术;

11、多语言支持;

12、优异的机械耐久性，可保证长时间运行;

13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互;

14、设计紧凑，可以轻松移动;

15、低噪音、得益于智能温控风扇;

16、全面的自定义和现场应用方法建立功能;

17、易于安装，更易于维护。

与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X 射线管产生的所有杂散干扰。