X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移，利用常规X光源实现X射线吸收精细结构（XAFS）的光谱测量，对同步辐射等重大科技基础设施及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器具有很好的补充和拓展作用。该产品目前已被北京大学、北京航空航天大学、天津大学、华北电力大学、青海大学、安徽大学等众多高校选购，有效助力相关科学研究和应用开拓！

小型化桌面式系统，易于使用：

· 支持近边快扫功能；

· 支持原位测试等扩展功能；

· 人体工学高度设计，操作更便捷；

· 内置实验参数预置，实现快速测量；

· 不同样品、不同测量模式一键自动切换；

· 远程数据传输，实时显示实验进程和结果支持无人值守测试；

· 专业的应用技术支持和数据分析支持；

· 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证人身和使用安全。

XAFS专用弯晶：

· 不同晶面配置齐全，实现各个元素覆盖；

· 预准直安装，即插即用；

· 可根据需要元素定制特殊弯晶，达到最佳性能。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移能量扫描机构：

· 联动扫描机构；

· 实现光源、弯晶、样品和探测器的精密联动；

· 精度和分辨率高，稳定性好。