台式X射线吸收谱仪，作为一种非破坏性的分析技术，具有高精度和高灵敏度的特点，近年来在材料科学、化学、生物学等领域得到了广泛应用。
其核心原理在于利用X射线与物质之间的相互作用来揭示物质的内部结构和特性。当X射线穿过物质时，会与物质中的原子或分子发生相互作用，产生吸收、散射等现象。台式X射线吸收谱仪通过精确测量不同能量下X射线的吸收情况，可以获取关于物质中元素的种类、含量以及化学状态等信息。
台式x射线吸收谱仪利用常规X光源实现X射线吸收精细结构(XAFS)的光谱测量，对同步辐射等重大科技基础设施及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器具有很好的补充和拓展作用。
小型化桌面式系统，易于使用：
· 支持近边快扫功能；
· 支持原位测试等扩展功能；
· 人体工学高度设计，操作更便捷；
· 内置实验参数预置，实现快速测量；
· 不同样品、不同测量模式一键自动切换；
· 远程数据传输，实时显示实验进程和结果支持无人值守测试；
· 专业的应用技术支持和数据分析支持；
· 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证人身和使用安全。
XAFS专用弯晶：
· 不同晶面配置齐全，实现各个元素覆盖；
· 预准直安装，即插即用；
· 可根据需要元素定制特殊弯晶，达到最佳性能。
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收谱能量扫描机构：
· 联动扫描机构；
· 实现光源、弯晶、样品和探测器的精密联动；
· 精度和分辨率高，稳定性好。
