日本oji-keisoku分子取向仪无损测量高精度 MOA-8000系列 特点介绍

■特点

1. 非接触式、无损测量

2. 可测量透明和不透明材料

3. 全自动、高精度

4. 可测量复介电常数（介电常数、介质损耗因数）

日本oji-keisoku分子取向仪无损测量高精度 MOA-8000系列 规格参数

■测量对象

1. 薄膜、片材

2. 纸、无纺布、预浸料

3. 泡沫片材

4. 陶瓷

5. 橡胶片材

6. 纤维增强复合材料

7. 液晶聚合物（LCP）

■用途

1. 拉伸薄膜的各向异性测量（弯曲现象分析）

2. 液晶聚合物的取向评价

3. 电子相关材料的复合介电常数测量等　　■

产品阵容

< MOA-8004 >

◆测量频段... 4GHz

◆ 测量面积...Φ65mm

◆样品尺寸...□95mm <t3mm

◆测量项目

取向图案测量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介电常数图案测量：取向角、ε'、ε"

共振曲线测量：共振曲线、Q值

< MOA-8015 >

◆测量频段... 12GHz / 15GHz / 17GHz

◆测量面积... Φ18mm

◆样品尺寸... □35mm <t1.5mm

◆测量项目

方向图测量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n

介电常数图案测量：取向角、ε'、ε"

共振曲线测量：共振曲线、Q 值