红外线测厚仪RX200

RX200红外线测厚仪RX200

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-03-19 07:26:16
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产品属性
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上海首立实业有限公司

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产品简介

RX-200 测量方法:红外线反射吸收式
分光方式:旋转过滤器方式(可以实际装载6张)
测量距离:25mm(本体部下方面)
测量面积:5×8mm(椭圆)
尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),约4.5kg

详细介绍

正反射P偏光型标准在线膜厚计!消除了引起误差的表面反射,可以正确进行测量。

如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。

并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪的硬件。


 

用途例


 

规格

 

项目规格
测量方法红外线反射吸收式
分光方式旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
测量距离25mm(从本体部下面)
测量面积5×8mm(椭圆)
尺寸、重量、电源传感器头230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
数据处理部275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
中继单元部250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
外部输出从模拟0~10v 到4~20mA进行选择(出厂时设定)
环境温度0~40℃(没有结露)
电源AC100V±10% 50/60Hz
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