产品名称

扫描电子显微镜(SEM)

设备型号：

FEI Quanta 200 Environmental Scanning Electron Microscope

测试功能：

1.表面形貌：提供高分辨率的表面形貌图像，观察样品表面的形貌、纹理和形状。

2.粒度分析：分析样品中的粒度，包括颗粒的大小、形状和分布。

3.拓扑结构：显示样品拓扑结构，如裂纹、凹凸、孔隙。

4.腐蚀和磨损分析：观察样品表面的腐蚀、磨损，分析样品耐磨性。

5.相分布：在多相材料中，SEM可以用于观察不同相之间的分布和界面。

6.涂层和薄膜分析：分析涂层、薄膜的厚度、均匀性和附着性。

7.半导体器件分析：研究和检查集成电路、晶体管和其他半导体器件的结构

艾博纳扫描电子显微镜（SEM）测试的样品要求：

1.样品尺寸：一般试样取样直径最好在25mm以内，最大高度10mm以内。

2.ESEM、冷冻及加热试件因可视范围之限制，取样直径限制在2mm以内，最大高度2mm以内，底部要平整，试件请自行提前处理。

3.固体样品保证干燥，并且表面平整和干净。

4.样品应在高真空环境下稳定，不应有显著的气体释放或化学变化。

5.避免样品表面有尘埃、油污或其他污染物。