Z扫描测试系统-ZTS100

Z扫描测试系统-ZTS100

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2024-09-12 18:19:43
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大连创锐光谱科技有限公司

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产品简介

Z扫描测试系统-ZTS100抖动消除:参比双通道信号同时采集;功率检测范围:50 nW-40 mW。

详细介绍

Z扫描测试系统-ZTS100主要技术指标

精密光学位移台 

速度

30 mm/s

最小分辨率

0.1 μm

重复定位精度

<2 μm

功率探测器


测试波长

350-1700 nm

功率检测范围

50 nW-40 mW

抖动消除

参比双通道信号同时采集









Z扫描测试系统-ZTS100应用实例

 实验条件 

样品名称

单晶硅

激发光波长

1030 nm

探测光波长

1030 nm

Z扫描测试系统-ZTS100

大连创锐光谱科技有限公司基于自主创新的时间分辨光谱技术,致力于推动光谱技术在科研和工业领域的深入应用。在科研仪器领域,创锐光谱由一线专家带队,是目前国内极少具备瞬态光谱独立研发-生产-应用完整能力体系的团队。创锐光谱以时间分辨光谱核心技术,超快瞬态吸收光谱系统为核心产品,打破进口垄断格局。主要产品包括瞬态吸收光谱系统、共聚焦荧光成像系统、DPSS纳秒激光器及高速探测器。在工业半导体检测领域,公司以光谱技术创新为核心立足点,已迅速完成碳化硅衬底、外延、氮化镓、钙钛矿电池等多领域布局。

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