DIL 806 光学热膨胀仪

技术

DIL 806 光学热膨胀仪采用了创新的测量原理，使非传统的热膨胀实验成为可能，并改善了许多传统的测试

测量原理

DIL 806采用了阴影光的方法。在该方法中，通过测量CCD探测器上样品的阴影来测量一个方向上样品的绝对尺寸的大小。 高强度的GaN LED发出平面光，通过一个扩散单元和准直透镜，产生高度均匀的、短波平面光。该光的一部分被样品阻挡。有阴影的光束通过远心光学系统进行精细处理，并由高分辨率的CCD探测器记录。数字边缘检测自动确定阴影的宽度，进而测定样品的尺寸。

绝对测量的优势

DIL 806测量本质上是一个绝对的测量，不受随温度程序变化的系统热膨胀的影响。 只有样品经历温度的变化，光源和检测器与这些变化相隔离。因此，测量是绝对的，不需要进行顶杆式膨胀仪使用中常见的特定测试的校准。