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系统配置丰富，高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统、多位自动换样系统、包括多层膜反射镜平行光系统的全自动光学系统和二维阵列半导体探测器，配合功能齐全的控制和分析软件，可在室温和变温条件下实现覆盖固体粉末、薄膜、纳米材料、块体材料和液体样品的常规衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射线反射和小角X射线衍射(SAXS)等多种模式测量，可执行高精度全自动物质结构测试分析任务。
┃ 设备特点
高强度X射线光源
高能量分别率的二维探测器
丰富的CBO光学附件，全自动光路切换和校准
全新SmartLab Studio Ⅱ 软件，与硬件结合，并且集成了众多原位测量功能
