日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪这是一款小型、低成本的膜厚计，采用高精度光学干涉法测量膜厚，操作简单。
我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主体内，实现稳定的数据采集。
尽管价格低廉，但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。

日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪产品信息：

• 紧凑、低成本、易于操作的膜厚测量。

• 通过选择光谱仪和光源可以选择测量膜厚范围。

• 简单的条件设定和测量操作，任何人都可以轻松测量。

• 配备实时监控功能、模拟功能等。

• 测量光斑直径φ3mm（标准），支持从3nm到35μm的薄膜到厚膜的广泛测量。

• 绝对反射率测量

• 膜厚分析（10层）

• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

• 功能膜、塑料
  透明导电膜（ITO、银纳米线）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、粘合剂、保护膜、硬涂层、防指纹代理等。

• 半导体
  化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、抗蚀剂、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、蓝宝石等。

• 表面处理
  DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。

• 光学材料
  滤光片、增透膜等。

• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机薄膜、封装材料）等。

• 其他
  硬盘、磁带、建筑材料等。