中村代理-SSD静电衰减测量仪

中村代理-SSD静电衰减测量仪

H0110-S4B

静电衰减测量仪适用于研究材料的静电耗散特性。它是用电晕放电产生的空气离子照射样品使其带电，然后检查空气离子照射后的电荷衰减曲线的装置。停止了。全新升级为H0110-S4B。

该装置符合JS L1094-1980的半衰期测量装置，即机织和针织材料的带电测试方法。(如果需要用20毫米探头高度进行校准，请在购买时注明。)

作为样品带电的方法，我们采用电量放电产生的空气离子照射，因此通过选择电量放电的极性和施加的电压，可以使样品带正电或负电，并且可以改变电压值也可以改变。

可以测量所有片状样品，例如薄膜、板材、线、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，请联系我们。

Honest 提供演示测量。详情请联系我们。

诚实数据分析系统已更新至V3。 Honest本身也兼容H0110-S4B.

为了将V3连接到H0110-S4A，需要对主机进行修改。对于其他旧型号，可能无法修改连接，请联系我门。

从 HO110-S4 开始，校准期间的标准探头高度现在为 15 mm(符合JS)。如需20mm校准，请在订购时注明。

购买时请注明AC100V 50Hz/60Hz。