一、产品概述：
可控高温原位X射线测试台主要用于研究材料在高温环境下的结构变化与性能表现，适用于晶体材料物相定性和定量分析、衍射谱的指标化和点阵参数的测定、晶粒尺寸及点阵畸变的测定、薄膜物相的测定以及原位高温结构变化的动态分析等。通过该设备，研究人员可以在不破坏样品的情况下，直接观察材料在高温下的结构演变，为材料科学、化学、物理等领域的研究提供有力支持。
二、装置参数：
1.装置包含温控器，原位池腔体，加热系统，上位机软件，真空系统；
2. 装置采用PID智能控制，USB信号传输，温度曲线数据采集，可存储，可调取;
3.可多点温控校正，温度可限设置，温度可以多程序段设置；
4.温度范围常温-1000℃，控温精度小于0.3℃,升温速率：80℃/min；
5.装置采用电阻加热，传感器置于样品下方，能直观反映样品真实温度变化；
6.升温台直径25mm, 窗采用半球型结构，平面360°无遮挡采集，进口PEEK材质；
7.装置采用O型圈密封，密封良好，可以抽真空，可充通反应气体；
8. 装置采用航空铝材质，装置外形110mm*80mm*50mm，净重0.5Kg;
9.腔体冷却方式：采用循环水冷却;
10.装置.操作简单，安装方便，测试一致性好;；
11. 装置广泛应用在各大主流衍射仪品牌上以及同步辐射，无需改装仪器。
三、应用领域：
可控高温原位X射线测试台广泛应用于材料科学、化学、物理等领域的研究中，特别是在研究材料在高温下的结构变化、性能表现以及反应机理方面具有重要意义。
综上所述，是一种功能强大、易于操作与维护的科研设备，为材料科学、化学、物理等领域的研究提供了有力支持。
