镀层测厚T300V下照式镀层测厚仪 物理特性分析仪器
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多层多元素 Si-pin探测 全自动性能膜厚仪
¥6500物理特性分析 镀层测厚仪 X荧光光谱仪
¥6500涂镀层分析 RoHS检测 多功能XRF 镀层测厚仪
¥6500RoHS检测 高性能多用型XRF X射线荧光光谱仪
¥6500半导体探测 专精性能膜厚仪 金属多元素分析
¥6500物理特性仪器 全自动性能膜厚仪 镀层测厚仪
¥6500高速数字多道 镀层测厚仪 物理特性仪器
¥6500微聚焦射线管 SDD探测器 镀层测厚仪
¥6500微聚焦增强型射线管 X射线荧光光谱仪XRF
¥6500多层合金 金属多元素分析仪 专精性能膜厚仪
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¥6500T300V下照式镀层测厚仪 物理特性分析仪器
T300V是佳谱仪器集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验,专门设计研发的 一 款下照式结构的镀层测厚 仪,性价比高、适用性强。
该款采用优良的FP算法同时搭配高速数字多道技术, 应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出 限低,性能稳定,检出限可达0.005um,是一款颇具客户 好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。
应用领域
*配置,值得更优性能
相比图2普通接收器,T300V采用了更为优良的高分辨率探测器,能将不同元素的信号准确 解析,针对单层、多层或复杂合金镀层的测量,测量精度更高,稳定性更好。
仪器参数
选择T300V的理由
检测实例
T300V下照式镀层测厚仪
电镀层,油漆层,陶瓷层,铝瓦,铜瓦,磷化层,纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头,不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量,而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样植。使用一款快速、连接、可靠的,简化超声厚度检测流程。测厚仪可用作精密或腐蚀测厚仪,满足苛刻的应用要求。测厚仪具有优良的超声功能、高达60 Hz更新率的快速扫描速度以及集成的无线连接功能,能够在无缝工作流程中提供值得信赖的结果。
连接:集成蓝牙、USB、RS-232和可移动microSD卡*
快速:以快2倍的显示更新率扫描最小厚度区域**
用途广泛:使用我们的全系列双晶和单晶探头,可应对多种厚度应用
T300V下照式镀层测厚仪 物理特性分析仪器