美国BH（原美国GE）贝克休斯水浸探头

用于浸入式方法的传感器

水浸探头的设计目的是与水楔配合使用，或者在被检工件部分或全部浸入水中时，在水浸箱中进行检测。这类探头属纵波探头，但经过设置后，使用Rexolite楔块可以进行折射横波检测。

优势特性

其声阻抗与水匹配

可装配到水楔上，以更方便地耦合到多种表面，且其水中声程可调（当被检工件不能浸没到水箱中时）。

线性扫查可以覆盖30毫米到90毫米的距离，且检测的准确性非常高。

耐腐蚀不锈钢外壳

可保证在水下1米深的位置具有防水性

典型应用

对（钢、铝或其他材料制成的）薄板或管子进行检测

对复合材料进行检测，探测出分层和脱粘等缺陷

在线厚度测量

自动扫查

水浸探头浸入式传感器

•通过水耦合达到最佳耦合效果

•用于结构较规则工件

•常用于自动检测系统

•耦合效果稳定一致，检测结果可重复性好

•可用于扫查架，喷水式检测

•可以通过聚焦提高灵敏度和分辨力

聚焦水浸探头入式传感器

•点聚焦模式

•线聚焦模式

聚焦优势

提高对小缺陷的敏感检测灵敏度

美国BH（原美国GE）贝克休斯水浸探头

传感器探头选择标准 -北美标准

根据美国标准制造的探头，Baker Hughes Inspection Technologies 提供三种系列探头： Alpha、Benchmark， 和 Gamma 系列。 所有探头均根据 ASTM E-1065标准进行测试，测试报告提供波形和频谱等相关信息。

•建议用于对检测分辨率有较高要求的检测应用。

•适用于对分辨力要求高的厚度测量和近表面缺陷检测等应用。

•脉冲非常短，达到目前探头技术极限。

•灵敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探头。

•带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 50％ 至 100％。

•典型的 Alpha 波形（右图）通常只有一到两个完整的回波周期

Benchmark 系列探头功能

•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 压电复合材料。

•对高衰减材料的穿透性远优于传统探头。

•对粗晶粒金属材料、碳纤维增强复合材料检测具有高信噪比。

•回波脉冲短 - 分辨率通常优于 Gamma 系列。

•灵敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探头。

•高带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 60％ 至 120％。

•晶片低声阻抗提高了斜探头、延迟探头和水浸探头的性能，与塑料和水的声阻抗匹配效果好。

Gamma 系列功能

•常用探头，适用于大多数日常检测应用要求。

•中脉冲、中阻尼 – 灵敏度和分辨率的优化组合。

•电子匹配性能确保较高的检测灵敏度，牲牺一定分辨力

•中带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 30％ 至 50％。

•典型的 Gamma 波形会显示三到四个完整回波周期，取决于探头频率、探头直径和其他参数。

接触式直探头

应用

•结构规则简单的大型工件检测

•锻件、坯料检测

•板材、棒材、方型材

•容器、机器零部、外壳

•在高温下用延迟块检测

功能特和优势

欧式型号具有可更换的软保护膜

– 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合

– 延长探头使用寿命。

– 适用于 DGS 缺陷定量方法

– 提供高温延迟块

– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器，标准探头连接器安装在侧面，顶部接口可选

美式型号具有可更换的软保护膜

– 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。

– 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。

– 高温延迟块可在最高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。

– BNC 连接器，侧面或顶部安装

用于接触式检测方法的探头传感器

直探头-单晶

•工件形状规则，检测面相对光滑

•适用于平面或带曲率接触面

•缺陷或底面与接触面平行

•用于检测厚度较大的工件

•延迟块探头能提高近表面分辨力

•需要耦合剂

•日常检测常用探头

直探头直通波束 - 双晶片 (TR)

•通过隔声层使发射与接收晶片独立分开

•缺陷或底面与接触面平行

•用于检测厚度较小工件

•需要耦合剂

•日常检测常用探头

坡度波束斜探头

•斜探头晶片与楔块一体或可拆卸

•横波或纵波以特定角度入射

•常用的斜探头为横波探头

•检测与入射声束垂直的缺陷

•有单晶与双晶斜探头

•需要耦合剂

•有时用于扫查器或自动扫查