美国贝克休斯（原GE）超声波测厚仪CL5升级CL Go+ 

该设备采用先进的数字信号处理技术和自动增益控制，以在各种条件下提供稳定的读数。高分辨率的A扫描和闸门控制功能能够优化测量结果，确保准确性。主要特点包括：

• 采用有限脉冲响应上采样和插值零交叉测量技术，提高测量稳定性和可靠性。

• 自动增益控制，提高重复性。

• 多种校准和零点校准模式，确保一致的准确性。

• 多种测量模式，包括厚度、差值、质量和声速。A扫描、B扫描、最小/最大值、

CL Go+声速选项可用于确定已知厚度材料的声速。用户可以输入材料厚度，将探头放置在零件上，CL Go+将显示材料的声速。每个值都可以存储在数据记录器中，并可以下载到个人电脑上。

美国贝克休斯（原GE）超声波测厚仪CL5升级CL Go+

型号和软件选项：

179M5147 CL Go+ 标准超声波精密厚度测量仪，具备实时A-Scan功能

179M5148 CL Go+ DL 高级超声波精密厚度测量仪，具备实时A-Scan和数据记录器功能

179M5149 软件升级：CL Go+ CL Go+软件升级到USM Go+/DMS Go+

179M5150 软件升级：CL Go+ DL CL Go+ DL软件升级到USM Go+/DMS Go+

179M5151 软件附加功能：数据记录器（DL） 将数据记录器（DL）添加到CL Go+