带有U-SMPS的MFP Nano plus 4000 滤材滤料测试台 -使用两个UF-CPC根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准在原始和清洁气体中实时测定馏分分离效率，并检测MMPS范围

•  实时测定10 nm以上颗粒的馏分分离效率
•  通过测量原始气体和清洁气体中的颗粒浓度，可将确定馏分分离效率的时间减少一半。
•  无需稀释！
•  结合两种UF-CPC版本，UF-CPC在原始气体中的最高测量浓度可达2,000,000颗粒/立方厘米（单计数模式），而UF-CPC 50在低浓度洁净气体中的最高计数率对应于稀释系数为1：200。
•  符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3的国际可比较的测量结果
•  方便地使用不同的测试气溶胶，例如NaCl / KCl或DEHS（其他可根据要求提供）

Palas®的MFP过滤器测试台已经在开发和质量控制的实际应用中在世界各地经过多次验证。

MFP Nano plus 4000 滤材滤料测试台专门设计用于根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准精确地测定HEPA和ULPA过滤介质的分离效率。

本设备是一种现代且功能强大的纳米颗粒测量设备，以U-SMPS形式，进行5 nm到1 µm范围粒度测量和数值分析：

使用MFP Nanoplus 4000和UF-CPC冷凝粒子计数器在原始气体和清洁气体中实时测量特定尺寸的分离效率。

MFP Nanoplus 4000馏分分离效率的实时测量具有以下特殊优势：

•   通过测量原始气体和清洁气体中的颗粒浓度，可将确定馏分分离效率的测量时间减半。
•   结合两种UF-CPC版本，UF-CPC在原料气中的最高测量浓度可达2,000,000颗粒/立方厘米（单计数模式），而UF-CPC 50在洁净气体低浓度下的最高计数率对应于稀释系数为1：200。因此，不再需要常规的气溶胶稀释。

借助通用气溶胶发生器UGF 2000，可以使用DEHS或盐（NaCl / KCl）生产与MMPS范围相匹配的气溶胶分布。

测试序列的高度自动化设置以及清晰定义的单个组件和滤波器测试软件FTControl的可单独调整程序，共同提供高度可靠的测量结果。

MFP过滤器测试台是用于扁平过滤器介质和小型微型过滤器的模块化过滤器测试系统。可以在很短的时间内确定压力损失曲线、馏分分离效率或负荷，既可靠又具有成本效益。