四探针电阻率测试步骤流程
半导体采用四探针法测试电阻率及电导率，他的性质在一般情况下，半导体电导率随温度的升高而减小，这与金属导体恰好相反。
上述特征的材料都可归入半导体材料的范围。反映半导体材料内在基本性质的却是各种外界因素如光、热、磁、电等作用于半导体而引起的物理效应和现象，这些为半导体材料的半导体性质。
半导体材料分为元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体和非晶态与液态半导体。
备制不同的半导体器件对半导体材料有不同的形态要求，包括单晶的切片、磨片、抛光片、薄膜等。半导体材料的不同形态要求对应不同的加工工艺。
半导体材料的特性参数对于材料应用甚为重要。不同的特性半导体材料决定不同的用途。
下面就半导体材料四探针电阻率测试仪给大家介绍下操作流程及操作步骤，就FT-341四探针电阻率测试仪为例，来做详细的介绍：
