原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM），是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件（探针）之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究，获得纳米颗粒尺寸，孔径，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同时还能做表面结构形貌跟踪（随时间，温度等条件变化）。也可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的直观视觉。结合仪器的各种标准操作模式以及附件，可在进行高分辨成像的同时，获得包括样品力学、电学、磁学、热力学等各项性能指标。
原子力显微镜使用的注意事项：
①粉末/液体样品请备注好制样条件，包括分散液、超声时间及配制浓度；
②测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小＞0.5*0.5cm；
③PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，粉末测试很难测到较好结果，下单前请确保风险可接受；
④块状样品需要固定好，避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果；
⑤超声不超过20min，如需长时间超声，需要自己超声好以后给我们，但是长时间超声后，对样品的影响会比较大，需自行承担测试风险；
⑥常规测试项目每样提供2~3张图片，特殊测试项目每样提供1~2张图片，力曲线每样测试3~5条。
