原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件(探针)之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究,获得纳米颗粒尺寸,孔径,材料表面粗糙度,材料表面缺陷等信息,同时还能做表面结构形貌跟踪(随时间,温度等条件变化)。也可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示,使图像更适合于人的直观视觉。结合仪器的各种标准操作模式以及附件,可在进行高分辨成像的同时,获得包括样品力学、电学、磁学、热力学等各项性能指标。
原子力显微镜使用的注意事项:
①粉末/液体样品请备注好制样条件,包括分散液、超声时间及配制浓度;
②测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小>0.5*0.5cm;
③PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整,粉末测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受;
④块状样品需要固定好,避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果;
⑤超声不超过20min,如需长时间超声,需要自己超声好以后给我们,但是长时间超声后,对样品的影响会比较大,需自行承担测试风险;
⑥常规测试项目每样提供2~3张图片,特殊测试项目每样提供1~2张图片,力曲线每样测试3~5条。