白光干涉仪以白光干涉为原理，广泛应用于材料科学等领域，对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、磨损情况、腐蚀情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析，是一种常见的光学轮廓测量仪器。但是许多人对白光干涉仪的使用范围和限制性存在疑问，本文将围绕“白光干涉仪是否智能测量同质材料？”进行深入探讨。
白光干涉仪由光源、分光器、干涉仪和探测器等部分组成。仪器基于干涉现象原理工作：当两束或多束光线相互叠加时，会发生干涉现象。白光干涉仪利用这种干涉现象来测量光的相位差，从而获得材料的相关参数。
光源发出的白光通过分光器被分成两束光线，分别经过不同的光路。然后，这两束光线再次相遇并叠加在一起，形成干涉图样。通过干涉图样的变化，我们可以得到材料的相关信息。
白光干涉仪只能测同质材料吗？答案是否定的。在实际应用中，白光干涉仪的测量对象可以是各种类型的材料，例如金属、陶瓷、塑料等。无论是同质材料还是非同质材料的测量，白光干涉仪的干涉图样分析和计算方法都可以提供准确而详细的测量结果：
1、同质材料具有相似的光学特性，因此可以采用简化的分析方法。利用干涉仪图样的分析，可以直接获得相关参数（如膜层厚度、表面粗糙度、膜层折射率等），从而得到准确的测量结果。
2、对于非同质材料，由于其光学特性的差异性，分析方法相对更为复杂，通常需要借助计算机模拟和计算等手段来精确测量参数。
无论是研究材料性质、表面形貌，还是进行质量控制和判别等方面，白光干涉仪都具有广泛的应用前景。
SuperViewW1白光干涉仪能够以优于纳米级的分辨率，测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。无论是研究材料性质、表面形貌，还是进行质量控制和判别等方面，又或者是测量薄膜、涂层的厚度、光学膜的质量、光学器件的性能等，在材料科学、光电子学、微电子学等领域都扮演着重要的角色。除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。
结果组成：
1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；
3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；
5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；
6、微电子表面分析和MEMS表征。
总之，白光干涉仪并非只能测量同质材料。尽管在非同质材料的测量中需要更多的校准和计算，但通过精确的技术和分析方法，它仍然可以提供准确、详细而可靠的测量结果，帮助我们深入研究材料的特性和性能。
