显微组织形貌的检测在材料科学和失效分析中起着决定性的作用。在光学显微镜中有许多可能使材料的真实结构可视化。本文中显示的图像示例演示了使用的这些技术的信息及潜力。
如果通过着色腐蚀未能产生单个微观结构部件的对比度，或者复合材料中仅一个相位接受腐蚀的情况下，那么，采用将试样放入偏振光，使其接受检测，这种方法通常是大有帮助的。上述示例参见图 19 - 20。图 19 显示了北欧金制成的 10 分硬币中晶粒和孪晶结构的更佳成像，而图 20 显示单个晶体及其针状结构为碳化钨。图 21 显示了黑色碳素纤维强化塑料中石墨纤维的数量、大小和形状。如果还需要记录合成材料的不同部件，通常则需要进行额外的光学对比分析。图 22 记录了通过特殊黄铜微观结构的光学成像（同时还有玻璃纤维编织涂层）而获得的良好结果。在断开的电容器图片中，可以看到薄壁铜套管中的玻璃纤维芯已经焊接在锡青铜的导线带上（图 23）。本系列最后一张图片展示了带石墨组件和陶瓷颗粒的锡青铜所具备的耐磨烧结层（图 24）。
这些示例清晰展示了不同阶段的分布与形成（在未覆盖的情况下）对材料的属性具有很大的影响。这就是为什么此处阐述的区分方法如此重要的原因了。
图 19–21（从左到右）：带/不带着色腐蚀的偏光
图 22–24（从左到右）：带/不带着色腐蚀的偏光
图 25 - 28 显示了微观结构已经形成，其成因是腐蚀增加了干涉相衬条件下的另一个维度。这一点在下述的生黄铜丝中尤为明显（图 27），其中可以看见晶体结构和枝晶凝固的更多细节。
图 25–28（从左上到右下）：通过干涉提高对比度
图 29 - 31 是干涉相衬成像潜能的更好示例。图 29 显示了锡的材料特性，其中，骤加应力会导致新晶粒形成，并因孪晶产生晶体状倒逆过程。图 30 清晰展示了晶粒微观结构依据晶粒方向而形成的滑移带定位。该技术手段适用于大多数耐腐蚀硬金属，以获取二次粘合时球粒碳化物的更佳成像，二次粘合时，嵌入两相镍基合金（图 31）。
图 32 - 34 展示了将极为不同的物质组合在一种材料中的情况。图 32 显示了银焊陶瓷/铜接口。图 33 展示了玻璃塑料层和玻璃纤维编织物涂层的合成物，其用于合成陶瓷基板。图 34 显示了电子部件的横截面，铜导体的一侧带有玻璃纤维强化塑料，另一侧带有陶瓷结构。
图 29–34（从左上到右下）：通过带/不带着色腐蚀的试样进行干涉而提高对比度的示例
